X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、无损分析。
 

　　该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
 

　　X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
 

　　X荧光光谱仪的使用须知：

 

　　1、采用X光管产生激发源，因此，在不使用时，仪器会自动将X光管的高压断掉，使X光管的电源处理待机状态。此时，仪器将不会产生任何射线，同时大大延长X光管的寿命。
 

　　2、在放置样品时，只要开启防护罩，仪器也自动将X光管停止，不再产生X射线，*可以?；な褂谜叩娜松戆踩?br style="-webkit-tap-highlight-color: transparent; appearance: none; margin: 0px;"/> 

　　3、开启、关闭仪器盖子时，应轻开轻放。
 

　　4、设备使用的操作人员，必须要接受安全和操作培训后，才可上机，以确保设备的安全操作与正确使用。